Hệ thống phân tích kích thước hạt Nano

- Hãng sản xuất: Horiba Ltd (Nhật Bản), Model: SZ-100Z.

- Thiết bị đo kích thước hạt nano có khả năng đo phân bố kích thước hạt thông qua sự phát hiện các ánh sáng tán xạ gây ra bởi các hạt trong mẫu tuân theo nguyên lý tán xạ ánh sáng động học (DLS) hay photon tương quan quang phổ (PCS). Máy có thể đo điện thế zeta và trọng lượng phân tử của các hệ thống hạt sử dụng laser Doppler điện và các thông số  Debye (sử dụng tán xạ ánh sáng tĩnh) tương ứng.

- Máy đo ứng dụng lý thuyết ánh sáng tán xạ động học cho phép đo phân bố kích thước hạt. Được thiết kế để phát hiện ánh sáng tán xạ gây ra do ánh sáng đỏ tác động vào hạt đang chuyển động Brownian sử dụng 1 detector PMT(photomultiplier tube) và phân tích  ánh sáng tán xạ sử dụng phổ tương quan ảnh và tạo được kết quả bằng chức năng tương quan tự động, từ đó tính được đường kính trung bình và phân bố kích thước hạt.

- Tuân theo tiêu chuẩn ISO 13321:1996, ISO/DIS 22412:2008 và JIS Z8826:2005.

- Ứng dụng: phân tích các thông số của hệ phân tán Nano:

  • Thế zeta trung bình, chuyển động điện di trung bình, và tỷ lệ đỉnh được tính toán
  • Đo kích thước hạt, phân phối kích thước hạt.
  • Tính toán khối lượng phân tích theo phương pháp Debye plot.